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詳細(xì)資料：
Q8344A是一臺(tái)測(cè)試波長范圍0.35 - 1.75 μm的光譜分析儀。由于它使用了傅立葉光譜系統(tǒng)，并帶有麥克爾遜干涉儀，因此它能測(cè)量相干光。而這是采用單色光儀的色散光譜系統(tǒng)所不能達(dá)到的。這些特點(diǎn)使得Q8344A非常適合在諸如CD、VCD及其他領(lǐng)域中所使用的激光二極管等光學(xué)器件的測(cè)試。
內(nèi)置He-Ne激光器作為標(biāo)準(zhǔn)波長，從而達(dá)到了± 0.1 nm (1.3 μm)的波長精度，在沒有波長校正也能確保長期的測(cè)試穩(wěn)定性。
特點(diǎn)
相干測(cè)量
高速測(cè)試:1.5秒/次
波長測(cè)試精度：±0.1nm
較大波長分辨率：0.05 nm
儀器：
我們的大多數(shù)設(shè)備在裝運(yùn)之前均經(jīng)過嚴(yán)格的質(zhì)量檢測(cè)與校驗(yàn)。也可申請(qǐng)計(jì)量證書
