雷達式物位測量儀表 VEGA物位雷達式PULS61/62/63/65/66系列 液體或固體介質(zhì)，特別適用于高溫、高壓、真空、粉塵、 蒸汽及測量腐蝕性極強或混合度高的介質(zhì) VEGAPULS 61 配有塑封天線系統(tǒng)的雷達傳感器，用于連續(xù)物位測量(K-頻段) 特別適用于測量腐蝕性液體，或用于開口容器或渠道。 優(yōu)勢 - 探頭材料: PVDF 或 PP - 可以測量至距離天線下緣50mm的地方 - 測量精度 ±5 mm - ECHOFOX-信號分析處理，采用先進的模糊邏輯 - 通過 PLICSCOM, HART-編程器或計算機調(diào)試 - 屬于plics產(chǎn)品系列 測量范圍 達 20 米 過程連接 G1 1/2A螺紋, 龍門框或法蘭 過程溫度 -40 ... 80°C 過程壓力 -1 … +3 bar (-100 … +300 kPa) 測量精度 ±5 mm 發(fā)射頻率 K-頻段 VEGAPULS 62 配有喇叭口天線、拋物線天線或?¨- 導波管天線的雷達傳感器，用于連續(xù)物位測量(K-頻段) 適用于存儲容器或過程容器，可以在惡劣條件下測量幾乎所有介質(zhì)。 優(yōu)勢 - 非接觸是測量，不受過程溫度、過程壓力和過程氣體的限制 - 可以測量至距離天線下緣50mm的地方 - 測量精度 ±3 mm - ECHOFOX-信號分析處理，采用先進的模糊邏輯 - 通過 PLICSCOM, HART-編程器或計算機調(diào)試 - 屬于plics產(chǎn)品系列 測量范圍 達 35 米 過程連接 螺紋或法蘭 過程溫度 -40 ... 200°C 過程壓力 -1 … +40 bar (-100 … +4000 kPa) 測量精度 ±3 mm 發(fā)射頻率 K-頻段 VEGAPULS 63 配有塑封天線系統(tǒng)的雷達傳感器，用于連續(xù)物位測量 (K-頻段) 特別適用于測量腐蝕性強的介質(zhì)，或用于衛(wèi)生無菌要求高的環(huán)境。 優(yōu)勢 - 用于探測的材料只有一種 - 可以測量至距離天線下緣50mm的地方 - 測量精度 ±3 mm - ECHOFOX-信號分析處理，采用先進的模糊邏輯 - 通過 PLICSCOM, HART-編程器或計算機調(diào)試 - 屬于plics產(chǎn)品系列 測量范圍 達 20 米 過程連接 法蘭或衛(wèi)生連接 過程溫度 -200…150°C 過程壓力 -1 … +16 bar (-100 … +1600 kPa) 測量精度 ±3 mm 發(fā)射頻率 K-頻段 VEGAPULS 65 配有棒式天線系統(tǒng)的雷達傳感器，用于連續(xù)物位測量 (C-頻段) 特別適用于小的過程連接，在較為簡單的過程條件下測量腐蝕性液體。 優(yōu)勢 - 探頭材料: PVDF 或 PTFE - 可以測量至距離天線下緣100mm的地方 - 測量精度 ±10 mm - ECHOFOX-信號分析處理，采用先進的模糊邏輯 - 通過 PLICSCOM, HART-編程器或計算機調(diào)試 - 屬于plics產(chǎn)品系列 測量范圍 達 35 米 過程連接 G1 1/2A螺紋或法蘭 過程溫度 -40 ... 150°C 過程壓力 -1 … +16 bar (-100 … +1600 kPa) 測量精度 ±10 mm 發(fā)射頻率 C-頻段 VEGAPULS 66 配有喇叭口天線或2”導波管天線的雷達傳感器，用于連續(xù)物位測量(C-頻段) 特別適用于在極端復雜的過程條件下進行測量。 優(yōu)勢 - 非接觸是測量，不受過程溫度、過程壓力和過程氣體的限制 - 可以測量至距離天線下緣100mm的地方 - 測量精度 ±10 mm - ECHOFOX-信號分析處理，采用先進的模糊邏輯 - 通過 PLICSCOM, HART-編程器或計算機調(diào)試 - 屬于plics產(chǎn)品系列 測量范圍 達 35 米 過程連接 法蘭 過程溫度 -40 ... 400°C 過程壓力 -1 … +160 bar (-100 … +16000 kPa) 測量精度 ±10 mm 發(fā)射頻率 C-頻段 VEGAPULS 67 配有塑封天線系統(tǒng)的雷達傳感器，用于連續(xù)固料料位測量(K-頻段) 特別適用于測量固體料位，料倉高度可達15米。 優(yōu)勢 - 非接觸式測量，不受粉塵和風送入料的限制 - 測量精度 ±15 mm - ECHOFOX-信號分析處理，采用先進的模糊邏輯 - 通過 PLICSCOM, HART-編程器或計算機調(diào)試 -